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更新時(shí)間:2016-05-12本文內(nèi)容轉(zhuǎn)載自互聯(lián)網(wǎng)
光影魔術(shù)手中有CCD死點(diǎn)測試這個(gè)功能,并有詳細(xì)說明。轉(zhuǎn): 壞點(diǎn)是CCD在成像時(shí)產(chǎn)生永遠(yuǎn)發(fā)亮或發(fā)暗的死點(diǎn)位置固定根源是由于CCD當(dāng)前工藝水平的局限良品率不高所造成的.噪點(diǎn)是CCD在感光的時(shí)候隨機(jī)產(chǎn)生的噪音位置不固定并且會(huì)隨著環(huán)境溫度升高而增多.嚴(yán)格意義上的噪點(diǎn)是不可避免會(huì)產(chǎn)生的只不過多數(shù)由于我們?nèi)庋劭床灰姸鴮⑵浜雎赃@里我們只討論肉眼能夠看見的噪點(diǎn)。 壞噪點(diǎn)測試的具體方法:
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